更新時(shí)間:2024-11-03
X射線測(cè)厚儀校正片可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌用于校正測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加應(yīng)用程序,X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片膜厚儀校正塊通用各種X-RAY膜厚儀
X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片膜厚儀校正塊
可訂制各種厚度:
標(biāo)準(zhǔn)片廠牌:韓國(guó)Micropioner
標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)用X-RAY鍍層測(cè)厚儀,不同品牌鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片通用
用于校正鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加測(cè)量應(yīng)用程序
X射線測(cè)厚儀校正片
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等
各種厚度范圍均可訂制,附帶標(biāo)準(zhǔn)證書
X射線測(cè)厚儀在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。
是膜厚測(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品
根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。
以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對(duì)于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
MicropioneerXRF-2020鍍層測(cè)厚儀三款機(jī)型如下圖
檢測(cè)電子電鍍層厚儀,測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鋅鎳合金等
可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
金標(biāo)準(zhǔn)片,銀標(biāo)準(zhǔn)片,鎳標(biāo)準(zhǔn)片,錫標(biāo)準(zhǔn)片,銅標(biāo)準(zhǔn)片,鋅標(biāo)準(zhǔn)片如下圖
鈀標(biāo)準(zhǔn)片,銠標(biāo)準(zhǔn)片,鉑標(biāo)準(zhǔn)片如下圖
膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片X-RAY
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片通用各品牌X-RAY鍍層測(cè)厚儀
銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀,鉑,銠各種厚度
規(guī)格均可訂制,校準(zhǔn)片均附帶證書。
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