更新時間:2024-11-03
韓國微先鋒MicropioneerXRF-2000測厚儀標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌用于校正測厚儀標準及添加應(yīng)用程序測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀
測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀
標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌
用于校正測厚儀標準及添加應(yīng)用程序
韓國XRF-2020測厚儀標準片
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等
各種厚度范圍均可訂制,附帶標準證書
鍍層測厚儀標準片
X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品
根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標準曲線。
以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
鍍層測厚儀標準片實物如圖所示:
測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀
XRF-2000測厚儀標準片
銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀,鉑,銠各種厚度及規(guī)格均可訂制,校準片均附帶證書
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