鍍鎳測厚儀儀器特點有以下這些：
功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。
鍍鎳測厚儀測試誤差出現(xiàn)的原因：
零件放置方向不正確：對于平直零件，旋轉(zhuǎn)角度不是問題，因為XRF鍍層測厚儀信號不受影響。但是，對于彎曲零件，非常重要的是，將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致。這使零件對齊更容易且數(shù)據(jù)再現(xiàn)性更好，這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部，而不是側(cè)壁上。與前述聚焦的情況類似，錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離。在不好的情況下，零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀信號無法到達探測器。
測量結(jié)果超出校準范圍：鍍層厚度或成分與強度之間的關(guān)系在小范圍內(nèi)是線性關(guān)系，但在較大范圍內(nèi)可能是曲線關(guān)系。因此，校準曲線被優(yōu)化，在有限的厚度和成分范圍內(nèi)工作，而不是覆蓋整個分析范圍。該優(yōu)化范圍由回歸設(shè)置及創(chuàng)建校準曲線時使用的標樣決定。用戶可與XRF鍍層測厚儀制造商合作，了解校準曲線范圍，如果測量結(jié)果超出該范圍，則在用戶的軟件中設(shè)置警告。
